120-0007.pdf

8/10/2019 120-0007.pdf

http://slidepdf.com/reader/full/120-0007pdf 1/14

Standard STD 120-0007Volvo Group

Issue date September 2014 Issue 2 (14)

The English language version is the original andthe reference in case of dispute.

Den engelska språkversionen är originalversionoch ska åberopas i händelse av tvist.

SURFACE TEXTURE YTSTRUKTUR

Nominal characteristics ofcontact (stylus)instruments

Nominella egenskaper hossläpnålsinstrument

Orientation Orientering

As to its technical content, this standard conformsto ISO 3274:1996, except for an addition made byVolvo. The added text refers to a default low-passfilter value for the P-profile, where the value 2,5 µmshall be used within Volvo, unless otherwisespecified. See section 3.4.

Denna standard överensstämmer i sak medISO 3274:1996, förutom ett tillägg som gjorts avVolvo. Tillägget gäller förvalt värde för lågpassfilterför P-profil, där värdet 2,5 µm ska användas inomVolvo om inget annat anges. Se avsnitt 3.4.

The standard is a further development of standardSTD 5068,811, which it replaces and from which itdiffers in that the addition mentioned above hasbeen made in section 3.4.

Standarden är en vidareutveckling av standardSTD 5068,811 som den ersätter och från vilkenden skiljer sig genom att ovanstående tillägg gjortsi avsnitt 3.4.

This issue differs from issue 1 in that thereferences have been updated to currentstandards.

Denna utgåva skiljer sig från utgåva 1 genom attreferenserna har uppdaterats till gällandestandarder.

Contents Innehåll

1 Scope and field of application 1 Omfattning och tillämpning 2

2 Definitions 2 Definitioner 2

2.1 Profiles 2.1 Profiler 2

2.2 Stylus instrument 2.2 Släpnålsinstrument 3

2.3 Stylus instrument components 2.3 Komponenter i släpnålsinstrument 4

2.4 Metrological characteristics of the

instrument

2.4 Metrologiska egenskaper hos

instrumenten

7

3 Nominal values for instrumentcharacteristics

3 Nominella värden förinstrumentegenskaper

12

3.1 Stylus geometry 3.1 Mätspetsgeometri 12

3.2 Static measuring force 3.2 Statisk mätkraft 12

3.3 Profile filter cut-off 3.3 Gränsvåglängder för profilfilter 12

3.4 Relationship between the roughness cut-off c, tip radius and roughness cut-offratio

3.4 Samband mellan gränsvåglängd förytjämnhet c, mätspetsradie ochgränsvåglängdskvot

12

Printed copies are uncontrolled. Print date: 2014-10-15

8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

1 Scope and field of application 1 Omfattning och tillämpning

This standard defines profiles and the generalstructure of contact (stylus) instruments formeasuring surface roughness and waviness,enabling the application of existing standards topractical profile evaluation. It specifies theproperties of the instrument which influence profileevaluation and it provides basic specifications for contact (stylus) instruments (profile meter andprofile recorder).

Denna standard definierar profiler och den generellastrukturen hos släpnålsinstrument för mätning avytjämnhet och vågighet, vilket möjliggör tillämpning avexisterande standarder vid praktisk profilutvärdering.Den specificerar de egenskaper hos instrumentet somhar inverkan på profilutvärderingen och den gergrundspecifikationerna för släpnålsinstrument (pro-filmätare och profilskrivare).

Notes: Anmärkningar:

1) A data sheet dealing with contact (stylus)

instrument characteristics to be completed bythe instrument makers is under preparation andwill be introduced in a future standard oncalibration procedures.

1) Ett datablad som beskriver egenskaper hos släp-

nålsinstrument och som är avsett att fyllas i avinstrumenttillverkarna håller på att tas fram ochkommer att introduceras i en framtida standard förkalibreringsinstruktioner.

2) The relationships between the waviness cut-offf, tip radius and waviness cut-off ratio areunder consideration and will be added to thisstandard as soon as ISO has come to aconclusion.

2) Förhållandena mellan vågighetsfilter f, mät-spetsradie och vågighetsbandbredd är underberedning i ISO och kommer att tillföras dennastandard så snart ISO nått sin slutsats.

2 Definitions 2 Definitioner

For the purposes of this standard, the followingdefinitions apply.

Vid tillämpning av denna standard gäller följandedefinitioner:

2.1 Profiles 2.1 Profiler

2.1.1 Traced profile 2.1.1 Avkänd profil

Locus of the centre of a stylus tip which featuresan ideal geometrical form (conical with sphericaltip) and nominal dimensions with nominal tracingforce, as it traverses the surface within theintersection plane.

Geometrisk position för centrumpunkten hos enmätspets när den rör sig längs mätytan i skärnings-planet. Mätspetsen kännetecknas av en ideal geometriskform (konisk med sfärisk spets) och nominella di-mensioner med nominell mätkraft.

NOTE - This is the profile from which all otherprofiles defined in this standard are derived.

ANM.: Alla andra profiler som definieras i dennainternationella standard utgår från denna profil.

2.1.2 Reference profile 2.1.2 Referensprofil

Trace on which the probe is moved in the inter-section plane along the guide.

Bana som givaren följer i skärningsplanet längsmätreferensen.

NOTE - The shape of the reference profile is thepractical realization of a theoretically exact profile.

ANM.: Referensprofilens form är den praktiska rea-liseringen av en teoretiskt exakt profil. De nominella


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

Its nominal deviations depend on the deviations ofthe guide as well as on external and internaldisturbances.

avvikelserna beror på mätreferensens avvikelse samtyttre och inre störningar.

2.1.3 Total profile 2.1.3 Totalprofil

Digital form of the traced profile relative to the refe-rence profile, with the vertical and horizontal co-ordinates assigned to each other.

Digital form av den avkända profilen i förhållande tillreferensprofilen, med de vertikala och horisontellakoordinaterna relaterade till varandra.

NOTE - The total profile is characterized by thevertical and horizontal digital steps.

ANM.: Totalprofilen kännetecknas av de vertikala ochhorisontella digitala stegen.

2.1.4 Primary profile 2.1.4 Primärprofil

Total profile after application of the low-pass filter s. Totalprofil efter användning av lågpassfiltret s.


1) The primary profile represents the basis fordigital profile processing by means of a profilefilter and calculation of the profile parameters inaccordance with STD 120-0018. The primaryprofile is characterized by the vertical andhorizontal digital steps, which may differ fromthose of the total profile.

1) Primärprofilen utgör grunden för den digitalasignalbehandlingen med profilfilter och beräkningarav profilparametrar enligt STD 120-0018. Primär-profilen kännetecknas av vertikala och horisontelladigitala steg, vilka kan skilja sig från totalprofilens.

2) The best fit least squares form of the typeindicated in the specification is not part of theprimary profile and shall be excluded beforefilters are applied. For a circle, the radius shallalso be included in the least squares

optimization and not held fixed to the nominalvalue.

2) En enligt minsta kvadratmetoden beräknad, bästanpassad form, av samma typ som i objektetsspecifikation, ingår inte i primärprofilen och ska tasbort före filtrering. För en cirkel ska radien inkluderas iminsta-kvadratanpassningen och inte styras av det

nominella värdet.

3) The nominal form is removed before theprimary profile.

3) Den nominella formen tas bort före primärprofilen.

2.1.5 Residual profile 2.1.5 Restprofil

Primary profile obtained by tracing an ideallysmooth and flat surface (perfect optical flat).

Primärprofil som erhålls genom att mäta på en perfektslät och plan yta (perfekt planglas).

NOTE - The residual profile is composed of thedeviations of the guide, external and internaldisturbances as well as deviations in profile

transmission. The determination of the causes ofthe deviations is not normally possible withoutspecial equipment and a suitable environment.

ANM.: Restprofilen är sammansatt av referensensavvikelser, yttre och inre störningar samt avvikelser iprofilöverföringen. Bestämning av orsakerna till

avvikelserna är normalt inte möjlig utan speciellutrustning och lämplig miljö.

2.2 Stylus instrument 2.2 Släpnålsinstrument

Measuring instrument which explores surfaceswith a stylus and obtains deviations in the form ofa surface profile, calculates parameters and canrecord the profile (see figure 1).

Mätinstrument som följer ytan med en mätspets (släpnål)och tar upp avvikelserna i form av en ytprofil, beräknarparametrar och kan registrera profilen (se figur 1).


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

NOTE - The shown diagram represents only theessential operators required in a theoreticallyexact measuring system. The specific

inter-relationship of operators may be subject todesign considerations. Therefore, figure 1 shouldnot be considered as the only form of theoreticallyexact configuration.

ANM.: Diagrammet som visas presenterar endast denödvändiga beståndsdelar som fordras i ett teoretisktexakt mätsystem. De specifika sambanden mellan

delarna kan vara föremål för konstruktörensöverväganden. Figur 1 ska därför inte betraktas som denenda möjliga realiseringen av det teoretiskt exaktamätinstrumentet.

Analysisaccording to

Analys enligtSTD 5068,031External

disturb-ances/Yttre

störningar

Surface/Yta

Stylus tip/Mätspets

r tip

Measuringloop/Mätkrets

Referenceguide/Mät-referens

Traverse/För-flyttning

Nominalform removal/Borttagningav nominellform

Operator without intentionalprofile modification/Operator som ej medföravsiktlig modifiering av profilen

Operator with intentionalprofile modification/Operator som medföravsiktlig modifiering av profilen

Profile filter/Profilfilter

s

Primaryprofile/Primär-profil

Tracedprofile/Avkänd

profil

Referenceprofile/

Referens-profil

Ingång/InputUtgång/Output

Input/IngångOutput/Utgång

Totalprofile/Totalprofil

AD con-verter/AD-om-vandlare

Amplifier/För-stärkare

Trans-ducer/Om-vandlare

Probe/Givare

Vertical profile transmission/

Vertikal profilöverföring

Drive unit/Drivenhet

Fig. 1 Schematic representation of a stylus instrumentSchematisk bild av ett släpnålsinstrument

2.3 Stylus instrument components 2.3 Komponenter i släpnålsinstrument

2.3.1 Measurement loop 2.3.1 Mätkrets

Closed chain which comprises all mechanical com-ponents connecting the workpiece and the stylustip, e.g. positioning means, workholding fixture,measuring stand, drive unit and probe (pick-up).See figure 2.

Sluten kedja vilken omfattar alla mekaniska komponentersom förbinder arbetsstycket och mätspetsen t.ex.positioneringshjälpmedel, hållare för arbetsstycke,mätstativ, drivenhet och givare. Se figur 2.

Analysisaccording to

Analys enligtSTD 120-0018


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

NOTE - The measurement loop is subjected to ex-ternal and internal disturbances and transmitsthem to the reference profile. The influence of

these disturbances depends on the individualmeasuring set-up, the measuring environment andthe skill of the user. The disturbances influence theresidual profile to a large extent.

ANM.: Mätkretsen är utsatt för yttre och inre störningaroch överför dem till referensprofilen. Inverkan av dessastörningar beror på den individuella mätuppställningen,

mätmiljön och användarens skicklighet. Störningarnainverkar i hög grad på restprofilen.

2.3.2 Reference guide 2.3.2 Mätreferens

Component which generates the intersection planeand guides the probe in it on a theoretically exactgeometrical trace (reference profile), generally in astraight line.

Komponent vilken skapar skärningsplanet och styrgivaren i planet på en teoretiskt exakt geometrisk bana(referensprofil), i allmänhet längs en rak linje.

NOTE - The guide is an essential part of the driveunit; it can be partially included in the probe. For

the use of skids, see section 4.

ANM.: Mätreferensen är en väsentlig del av drivenheten,den kan delvis ingå i givaren. För användning av glidsko,

se avsnitt 4.

2.3.3 Drive unit 2.3.3 Drivenhet

Component which moves the probe along the re-ference guide. It transmits the horizontal positionof the stylus tip in the form of a horizontal profileco-ordinate.

Komponent som flyttar givaren längs referensen ochöverför mätspetsens horisontella position till en hori-sontell profilkoordinat.

NOTE - Drive units are characterized by thelongest selectable tracing length.

ANM.: Drivenheter kännetecknas av den längsta valbaraavkända längden.

Drive unit/Drivenhet

Column/Pelare

Measurement loop/Mätkrets

Base/Basplatta

Fixture/Fixtur

Workpiece/Arbetsstycke

Stylus/Mätspets

Probe (pick-up)/Givare

Fig. 2 Example of measurement loop of a stylus instrument / Exempel på mätkrets för ett släpnålsinstrument


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

2.3.4 Probe (pick-up) 2.3.4 Givare (pick-up)

Component which contains the tracing element

with the stylus tip and the transducer.

Komponent vilken innehåller det avkännande elementet

med mätspets och omvandlare.

2.3.5 Tracing element 2.3.5 Avkännande element

Element which transmits the stylus tipdisplacement to the transducer.

Element vilket överför mätspetsens förflyttning i höjdledtill omvandlaren

2.3.6 Stylus tip 2.3.6 Mätspets

Element which consists of a nominally correct,circular cone with a defined cone angle and anominally spherical tip with a defined radius.

Element vilket består av en nominellt korrekt, cirkulär konmed definierad konvinkel och en nominellt sfärisk spetsmed definierad radie.

NOTE - The stylus tip is a very important element

in profile acquisition when employing stylusinstruments.

ANM.: Mätspetsen är en mycket viktig del vid

profilföljning då man använder släpnålsinstrument.

2.3.7 Transducer 2.3.7 Omvandlare

Device which converts the vertical co-ordinates ofthe traced profile in relation to the reference profileinto the signal form used in the instrument.

Anordning som överför de vertikala koordinaterna hosden uppmätta profilen i förhållande till referensprofilen tillden signal som används av instrumentet.

NOTE - The transducer does not cause anyintentional profile modification.

ANM.: Omvandlaren medför ingen avsiktlig profilmodi-fiering.

2.3.8 Amplifier 2.3.8 Förstärkare

Device which effects signal transformation in theinstrument without causing any intentional profilemodification.

Anordning som påverkar instrumentets signalöverföringutan att medföra någon avsiktlig profilmodifiering.

2.3.9 Analogue-to-digital converter (ADC) 2.3.9 Analog-digital-omvandlare (AD-omvandlare)

Device which converts the signal from theinstrument into digital values.

Anordning som omformar instrumentets signalvärden tilldigitala värden.

2.3.10 Data input 2.3.10 Dataingång

Data interface that the instrument may have which

allows input of one or more types of profiles froman external computer.

Datagränssnitt som instrumentet kan ha, vilket tillåter

inmatning av en eller flera typer av profiler från en externdator.

2.3.11 Data output 2.3.11 Datautgång

Data interface that the instrument may have whichallows output of one or more types of profiles to anexternal computer.

Datagränssnitt som instrumentet kan ha, vilket tillåterutmatning av en eller flera typer av profiler till en externdator.


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

2.3.12 Profile filtering and evaluation 2.3.12 Profilfiltrering och utvärdering

Operations carried out on the primary, roughness

and waviness profiles are realized by means ofparameters and characteristic functions accordingto STD 120-0018, STD 5068,813, STD 5068,814,STD 120-0006, STD 120-0008 andISO 16610-21:2011.

Matematiska operationer utförda på primär-, ytjämnhets-

och vågighetsprofilen med hjälp av parametrar ochkarakteristiska funktioner enligt STD 120-0018,STD 5068,813, STD 5068,814, STD 120-0006,STD 120-0008 och ISO 16610-21:2011.

NOTE - The nominal value of sampling length isequal to the wavelength cut-off c.

ANM.: Referenslängdens nominella värde är lika medgränsvåglängden c.

2.3.13 Profile recorder 2.3.13 Profilskrivare

Recorder that the instrument may have whichallows output of one or more types of profilesand/or parameter values.

Skrivare som instrumentet kan ha, vilken skriver ut eneller flera profiltyper och/eller parametervärden.

2.4 Metrological characteristics of theinstrument

2.4 Metrologiska egenskaper hosinstrumenten

2.4.1 Static measuring force 2.4.1 Statisk mätkraft

Force exerted by the stylus tip when it rests on thesurface in its mean position.

Kraft som mätspetsen utövar när den vilar på ytan i sittmittläge.

2.4.2 Change of static measuring force 2.4.2 Förändring av den statiska mätkraften

Change of measuring force which occurs when thestylus tip is displaced vertically.

Förändring i mätkraften som uppträder när mätspetsenförflyttas i vertikalled.

NOTE - Normally this change is proportional to thedisplacement.

ANM.: Vanligtvis är förändringen proportionell motförflyttningen.

2.4.3 Dynamic measuring force 2.4.3 Dynamisk mätkraft

Force resulting from the acceleration of the stylustip when continuously tracing the surface.

Kraft som resulterar av mätspetsens acceleration då denförs kontinuerligt över ytan.

NOTE - These dynamic measuring forces aresuperimposed on the static measuring force.

ANM.: Dessa dynamiska krafter är överlagrade denstatiska mätkraften.

2.4.4 Hysteresis 2.4.4 Hysteres

Difference between the indicated stylus tipdisplacement and the actual stylus tipdisplacement when the stylus tip moves inwardand outward, respectively.

Skillnad mellan mätspetsens registrerade förflyttning ochden verkliga förflyttningen då mätspetsen rör sig inåtrespektive utåt.


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

2.4.5 Transmission function for sinewaves

2.4.5 Överföringsfunktion för sinusvågor

Function which, for a given tracing speed,depends both on the wavelength and on theamplitude of the profile to be measured.

Funktion vilken, vid en given hastighet, beror både avvåglängden och amplituden som ska mätas.


1) In order to denote the transmission behaviour,the smallest sine wavelength (groove interval)which can still be transmitted within a givenerror limit may be stated for different traversespeeds and a given amplitude.

1) För att beskriva överföringsegenskaperna ska denminsta sinusvåglängd (spåravstånd) som kanöverföras inom en given felgräns anges för olikahastigheter och en given amplitud.

2) The transmission function of the probe isdependent on the probe configuration used and

will change for a given instrument if the probeconfiguration is changed.

2) Överföringsfunktionen hos givaren beror på denanvända givarkonfigurationen och kommer att

förändras för ett visst instrument om givarkon-figurationen ändras.

2.4.6 Measuring range of probe 2.4.6 Givarens mätområde

Vertical range over which the stylus tip and thetransducer can acquire displacements withincertain limits of permissible error and convert themto signals appropriate for digitization.

Vertikalt område inom vilket mätspetsen ochomvandlaren kan mäta förflyttningar inom bestämdafelgränser och omvandla dem till signaler lämpliga fördigitalisering.

2.4.7 Measuring range of instrument 2.4.7 Instrumentets mätområde

Vertical range over which the instrument canacquire displacements within certain limits of

permissible error, convert them to signalsappropriate for digitization and digitize them.

Vertikalt område inom vilket instrumentet kan mätaförflyttningar inom bestämda felgränser, omvandla dem

till signaler lämpliga för digitalisering och digitaliseradem.

2.4.8 Quantization step of the ADC 2.4.8 Kvantiseringssteg hos AD-omvandlaren

Displacement corresponding to the leastsignificant change in the ADC reading.

Förflyttning motsvarande den minsta signifikantaändringen som kan avläsas i AD-omvandlaren.

2.4.9 Instrument resolution 2.4.9 Instrumentets upplösning

Quantitative expression of the instrument’s abilityto meaningfully distinguish between closelyadjacent positions in the primary profile.

Kvantitativt uttryck för instrumentets förmåga attmeningsfullt särskilja mellan närliggande positioner iprimärprofilen.

2.4.10 Range-to-resolution ratio 2.4.10 Förhållanden mellan mätområde ochupplösning

Ratio of the measuring range to the instrumentresolution.

Kvot mellan mätområde och instrumentets upplösning.

NOTE - For instruments with several measurementranges, the range-to-resolution ratio is calculatedindividually for each measurement range.

ANM.: För instrument som har flera mätområdenberäknas förhållandet individuellt för varje mätområde.Förhållandet mellan mätområde och upplösning är


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

Consequently, the range-to-resolution ratio is notthe largest measuring range in relation to theinstrument resolution of the smallest measuringrange.

således inte det största mätområdet i förhållande tillinstrumentets upplösning på det minsta mätområdet.

2.4.11 Probe linearity deviation 2.4.11 Givarens linjäritetsavvikelse

Deviation of the actual characteristic curve fromthe straight line (or nominal characteristic curve) inthe measuring range.

Avvikelse hos den aktuella karakteristiska kurvan frånden räta linjen (eller den nominella karakteristiskakurvan) i mätområdet.

2.4.12 Short-wave transmission limitation 2.4.12 Gräns för överföring av korta våglängder

Limitation formed by the low-pass filter s whichseparates out the short-wave signal componentsof the total profile which, by definition, do notbelong to the primary, roughness or waviness

profiles.

Gräns formad genom lågpassfiltret s som separerarbort totalprofilens kortvågiga signalkomponenter, vilkaenligt definitionen inte tillhör primärprofilen, ytjämnheteneller vågigheten.

NOTE - This is defined in STD 120-0018. The low-pass filter can be engineered as a digital filter.

ANM. - Definitionen finns i STD 120-0018. Lågpassfiltretkan konstrueras som ett digitalt filter.

2.4.13 Vertical profile componenttransmission

2.4.13 Överföring av profilens vertikal-komponent

Transmission characteristic which indicates theamount by which the amplitude of a sinusoidalprofile at the transducer is attenuated in theprimary profile as a function of its wavelength.

Överföringskaraktäristik som anger i vilken omfattningamplituden hos en sinusformad profil av omvandlarendämpas i primärprofilen som en funktion av våglängden.

NOTE – Nominally, the wavelength transmission

characteristic has the form of the low-pass filteraccording to ISO 16610-21:2011. It is realized bymeans of the transducer, amplifier, band limiterand ADC which do not lead to a profilemodification in the pass band of wavelengths. Thevertical profile transmission can contain othercomponents that correct the primary profile, e.g.alignment corrections, corrections of systematicdeviations of the guide, linearity compensation ofcharacteristic curves, etc.

ANM.: Nominellt har överföringsfunktionen för våglängd

formen av ett lågpassfilter enligt ISO 16610-21:2011. Detrealiseras av omvandlare, förstärkare, bandbegränsareoch AD-omvandlare vilka inte medför en profilmodifieringi våglängdspassbandet. Överföringen av den vertikalaprofilkomponenten kan innehålla andra delar somkorrigerar primärprofilen, t.ex. uppriktningskorrektion,korrektion för mätreferensens systematiska avvikelser,linjäritetskompensering av överföringsfunktioner, m.m.

2.4.14 Horizontal profile positiontransmission

2.4.14 Överföring av profilens horisontal-position

Ratio of the difference between the horizontal co-ordinates of an arbitrary position on the total profileto the difference between the correspondinghorizontal co-ordinates of the stylus tip.

Kvot av differensen mellan de horisontella koordinaternapå en godtycklig punkt på totalprofilen och differensenmellan motsvarande horisontella koordinater förmätspetsen.


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

2.4.15 Deviations of the horizontal profileposition transmission

2.4.15 Avvikelser i överföringen av profilenshorisontalposition

Difference between the real horizontal profiletransmission and the nominal horizontal profiletransmission.

Differens mellan den verkliga överföringen av horison-talpositionen och den nominella överföringen av hori-sontalöverföringen.

2.4.16 Deviations of the profile trans-mission of the primary profile

2.4.16 Avvikelser hos primärprofilens överföring

Deviation between the real profile transmissioncharacteristic of the instrument and thetheoretically exact profile transmission of the short-wave band limitation according to ISO 16610-21:2011.

Avvikelse mellan instrumentets verkliga profilöver-föringskurva och den teoretiskt exakta profilöverföringenhos den kortvågiga bandbegränsningen enligtISO16610-21:2011.


1) In the pass band, the profile transmission isidentical to the transmission of static stylus tipdeflections.

1) I passbandet är profilöverföringen identisk medöverföringen av statiska mätspetsavböjningar.

2) The profile transmission limitations of theanalogue stage of the instrument, which usuallyconsist of frequency limitations in theinstrument’s mechanical parts, the amplifierand the ADC are included in this deviation.Since these limitations are frequency-related,they will appear differently as the instrument isused at different tracing speeds, being mostsevere at high tracing speeds.

2) Profilöverföringsbegränsningar i instrumentetsanaloga del (som vanligen består av frekvensgångs-begränsningar hos de mekaniska delarna,förstärkaren och AD-omvandlaren) är inräknade idenna avvikelse. Eftersom dessa begränsningar ärfrekvensberoende kommer de att uppträda olika närinstrumentet används vid olika avkänningshastigheteroch är mest påtagliga vid höga hastigheter.

2.4.17 Zero point drift 2.4.17 Nollpunktsdrift

Change of the instrument’s indicated zero point atconstant ambient temperature and unchangedstylus position.

Förändringen av instrumentets indikerade nollpunkt vidkonstant omgivningstemperatur och oförändratmätspetsläge.

NOTE - A slow unidirectional rate of zero drift hasnegligible effect on the profile acquisition and noneat all on the roughness filtered profile. A cyclicaldrift may be tolerated for the assessment of theroughness-filtered profile, but the drift may haveeffects on the primary and subsequently obtainedwaviness-filtered profile.

ANM.: En långsam nollpunktsdrift i en riktning harobetydlig inverkan på profilregistreringen och ingen allspå den ytjämnhetsfiltrerade profilen. En cyklisk drift kantolereras för utvärderingen av den ytjämnhetsfiltreradeprofilen, men driften kan påverka den primära profilenoch den därur erhållna vågighetsfiltrerade profilen.

2.4.18 Vertical linearity deviation 2.4.18 Vertikal linjäritetsavvikelse

Overall linearity deviation (from the stylus to theprimary profile) of the real vertical transmissioncharacteristic curve from a linear regression line inthe vertical direction.

Total linjäritetsavvikelse (från mätspetsen till primär-profilen) för den verkliga överföringskurvan från en linjärregressionslinje.


8/10/2019 120-0007.pdf


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

3 Nominal values for instrument

characteristics

3 Nominella värden för

instrumentegenskaper 3.1 Stylus geometry 3.1 Mätspetsgeometri

The ideal stylus shape is a cone with a sphericaltip.

Den ideala mätspetsformen är en kon med sfärisk spets.

The nominal dimensions are: De nominella måtten är

Tip radius r tip = 2 m, 5 m, 10 m Mätspetsradie r tip = 2 m, 5 m, 10 m

Cone angle 60°, 90° Konvinkel 60°, 90°

Unless otherwise specified for the idealinstrument, a cone angle of 60° applies.

Om inget annat anges tillämpas konvinkeln 60° för detideala instrumentet.

3.2 Static measuring force 3.2 Statisk mätkraft

The nominal value of the static measuring force atmean position of the stylus is 0,75 mN.

Det nominella värdet för den statiska mätkraften imätspetsens mittläge är 0,75 mN.

The nominal rate of change of measuring force is0 N/m.

Den nominella mätkraftsvariationen är 0 N/m.

3.3 Profile filter cut-off 3.3 Gränsvåglängder för profilfilter

A detailed description of the filter characteristic isgiven in ISO 16610-21:2011. The nominal valuesof the cut-off wavelengths of the profile filter areobtained from the series:

En detaljerad beskrivning av filterkaraktäristiken ges iISO 16610-21:2011. De nominella värdena förprofilfiltrets gränsvåglängder erhålls ur serien:

...mm; 0,08 mm; 0,25 mm; 0,8 mm; 2,5 mm; 8,0 mm; ... mm

3.4 Relationship between theroughness cut-off c, tip radiusand roughness cut-off ratio

3.4 Samband mellan gränsvåglängd förytjämnhet c, mätspetsradie ochgränsvåglängdskvot

Unless otherwise specified, the relationshipbetween the standard values of stylus tip radius,r tip, and roughness cut-off wave-length ratio c/s

for the standard values of the cut-off c shall be inaccordance with table 1.

Sambandet mellan standardvärdena för mätspetsen r tipoch gränsvåglängdskvoten c/s för standardvärdena förgränsvåglängden c ska, om inget annat anges, varaenligt tabell 1.

NOTE – The size of the low-pass filter s is notstandardized internationally for P-profiles. WithinVolvo, 2,5 µm shall be used as the s filter sizewhen a P-profile is measured, unless otherwisespecified.

ANM. För P-profiler finns ingen internationellstandardisering av storleken på lågpassfilter s. InomVolvo ska, om inget annat anges, 2,5 µm användas somstorlek för s-filter vid mätning av en P-profil.


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

Table / Tabell 1

cmm

sm

c/s r tipmax. m

Maximum samplingspacing

Max. samplings-avståndm

0,08

0,25

0,8

2,5

8

2,5

2,5

2,5

8

25

30

100

300

300

300

2

2

2 *) **)

5 **)

10 **)

0,5

0,5

0,5

1,5

5

*) For surfaces with Ra > 0,5 m or Rz > 3 m, r tip = 5 m can usually be used without significant

differences in the measurement results.För ytor med Ra > 0,5 m eller Rz > 3 m, kan vanligtvis r tip = 5 m användas utan signifikanta

skillnader i mätresultatet.

**) For cut-offs s of 2,5 m and 8 m, it is almost certain that the attenuation characteristicsresulting from the mechanical filtering of a stylus with the recommended tip radius will lie outsidethe defined transmission band. Since this is the case, a small variation in stylus radius or shapewill have negligible effect on the values of parameters calculated from the measured profile.If another cut-off ratio is deemed necessary to satisfy the application, this ratio must be specified.För gränsvåglängder s på 2,5 m och 8 m är det nästan helt säkert att dämpningskaraktäri-stiken från den mekaniska filtreringen som mätspetsen orsakar, med de rekommenderademätspetsradierna, kommer att ligga utanför det definierade transmissionsbandet. Eftersom så ärfallet, kommer en liten variation i mätspetsradie eller form att ha försumbar effekt på deparametervärden som beräknas från den mätta profilen.Om en annan gränsvåglängdskvot anses nödvändig för att tillfredsställa en viss tillämpning,måste denna gränsvåglängdskvot anges.

4 Instruments with limitations 4 Instrument med begränsningar

4.1 Analogue instruments using 2RCfilters

4.1 Analoga instrument med 2RC-filter

Differences between instruments using 2RC filtersand the ideal (theoretically exact) instruments, asdefined in the main body of this standard, whenmeasuring Ra, Rz and such parameters with thefilter cut-off values specified in STD 5068,801 arenormally negligible. Observed differences obtainedfrom industrially manufactured single-process

surfaces were not greater than the natural scatterof the values distributed over the surface.

Differenser mellan instrument som använder 2RC-filteroch de ideala (teoretiskt exakta) instrumenten, som ärdefinierade i huvudtexten till denna standard, är normaltförsumbara vid mätning av sådana parametrar som Ra,Rz och liknande vid användning av de i STD 5068,801specificerade filtervärdena. Observerade differenser somerhålls från ytor industriellt tillverkade i enkla processer

var inte större än den naturliga spridningen i värdenaöver ytan.

4.2 Instruments using skids 4.2 Instrument med glidskor

Instruments using skids can only be used formeasuring roughness parameters.

Instrument med glidskor kan endast användas förmätning av ytjämnhetsparametrar.


8/10/2019 120-0007.pdf



Issue 2 (14)

4.2.1 Skid radius 4.2.1 Glidskoradie

If a skid is employed, its radius in the traverse

direction shall not be less than 50 times thenominal cut-off wavelength used. If two skids areused simultaneously, their radii shall not be lessthan eight times the nominal cut-off wavelength.

Om en glidsko används, ska dess radie i traverse-

ringsriktningen inte vara mindre än 50 gånger dennominella gränsvåglängden. Om två glidskor användssamtidigt, ska deras radier inte vara mindre än åttagånger den nominella gränsvåglängden.

4.3.2 Skid force 4.3.2 Glidskokraft

The force exerted by the skid on the measuredsurface shall not be greater than 0,5 N.

Kraften som utövas av glidskon på ytan får inte varastörre än 0,5 N.

120-0007.pdf

Documents