modellistica del trasporto per diodi tunnel double barrier – quantum well interbanda
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Facoltà di Ingegneria Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni. Laboratorio di Microelettronica. Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier – Quantum Well interbanda. Candidato: Matteo Camprini. Relatori: Prof. G. ManesProf. G. Borgioli - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
Modellistica del trasporto per diodi tunnelModellistica del trasporto per diodi tunnelDouble Barrier ndash Quantum Well interbandaDouble Barrier ndash Quantum Well interbanda
Relatori
Prof G Manes Prof G BorgioliDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni Dipartimento di Elettronica e TelecomunicazioniUniversitaacute di Firenze Universitaacute di Firenze
Prof G Frosali Ing A CidronaliDipartimento di Matematica Applicata ldquoG Sansonerdquo Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni Universitaacute di Firenze Universitaacute di Firenze
Candidato Matteo Camprini
Anno Accademico 1999 - 2000
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Laboratorio di Microelettronica
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
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Diodi tunnel caratteristicheDiodi tunnel caratteristiche
La principale caratteristica di un diodo tunnel egrave la
presenza di una regione di funzionamento a
resistenza differenziale negativa (NDR)
Tale proprietagrave rende i diodi tunnel
particolarmente utili in numerose applicazioni sia
analogiche che digitali
NDR
Le moderne tecnologie nella lavorazione dei
semiconduttori consentono di realizzare strutture
multilayer e lattice ndash matched che permettono di Ottimizzare i parametri di funzionamento RF
del diodo Ottenere un elevato livello di integrazione
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CaratteristicheCaratteristiche Relativa semplicitagrave formale Accettabili possibilitagrave di simulazione e previsione della
caratteristica quasi-statica dei dispositivi
DatiDati Parametri fisici dei semiconduttori Diagramma a bande nella regione svuotata
Definizione di un adeguato un formalismo simbolico Implementazione del modello Verifica sperimentale mediante confronto con i campioni da
laboratorio forniti dal Motorola Physical Sciences Research Lab
ProcedimentoProcedimento
ObiettiviObiettivi
Realizzazione di un modello physical based per la corrente dovuta
allrsquoeffetto tunnel in diodi DBQW interbanda
Possibilitagrave di effettuare reverse modelling su dispositivi quantistici
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Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnelModelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel
ModelliCoerenti
ModelliCoerenti
Lrsquoelettrone egrave descritto come un pacchetto di onde piane
Si assume che la funzione drsquoonda mantenga coerenza
di fase durante la transizione attraverso la barriera
non sono considerati fenomeni collisionali
ModelliCinetici
ModelliCinetici
Sono prese in considerazione in numero limitato le
collisioni con i fononi
Lrsquoelettrone puograve subire una variazione della propria
energia E
Envelope waveEnvelope wavefunctionfunction
Density MatrixDensity MatrixWigner FunctionWigner FunctionGreenrsquos FunctionGreenrsquos Function
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Definizione del modello utilizzatoDefinizione del modello utilizzato
Ersquo un modello coerente introdotto da E O Kane nel 1960
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione
di tipo parabolico (massa efficace costante)
Lo stato dellrsquoelettrone egrave identificato da un pacchetto di onde piane
La dinamica dellrsquoelettrone egrave regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo
Schroumldinger accoppiate da un termine kP
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimentoMatrici di trasferimento++
Condizioni WKB Condizioni WKB
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bandeApproccio sceltoApproccio scelto
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Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
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Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
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Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
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Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
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Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Diodi tunnel caratteristicheDiodi tunnel caratteristiche
La principale caratteristica di un diodo tunnel egrave la
presenza di una regione di funzionamento a
resistenza differenziale negativa (NDR)
Tale proprietagrave rende i diodi tunnel
particolarmente utili in numerose applicazioni sia
analogiche che digitali
NDR
Le moderne tecnologie nella lavorazione dei
semiconduttori consentono di realizzare strutture
multilayer e lattice ndash matched che permettono di Ottimizzare i parametri di funzionamento RF
del diodo Ottenere un elevato livello di integrazione
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CaratteristicheCaratteristiche Relativa semplicitagrave formale Accettabili possibilitagrave di simulazione e previsione della
caratteristica quasi-statica dei dispositivi
DatiDati Parametri fisici dei semiconduttori Diagramma a bande nella regione svuotata
Definizione di un adeguato un formalismo simbolico Implementazione del modello Verifica sperimentale mediante confronto con i campioni da
laboratorio forniti dal Motorola Physical Sciences Research Lab
ProcedimentoProcedimento
ObiettiviObiettivi
Realizzazione di un modello physical based per la corrente dovuta
allrsquoeffetto tunnel in diodi DBQW interbanda
Possibilitagrave di effettuare reverse modelling su dispositivi quantistici
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnelModelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel
ModelliCoerenti
ModelliCoerenti
Lrsquoelettrone egrave descritto come un pacchetto di onde piane
Si assume che la funzione drsquoonda mantenga coerenza
di fase durante la transizione attraverso la barriera
non sono considerati fenomeni collisionali
ModelliCinetici
ModelliCinetici
Sono prese in considerazione in numero limitato le
collisioni con i fononi
Lrsquoelettrone puograve subire una variazione della propria
energia E
Envelope waveEnvelope wavefunctionfunction
Density MatrixDensity MatrixWigner FunctionWigner FunctionGreenrsquos FunctionGreenrsquos Function
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Definizione del modello utilizzatoDefinizione del modello utilizzato
Ersquo un modello coerente introdotto da E O Kane nel 1960
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione
di tipo parabolico (massa efficace costante)
Lo stato dellrsquoelettrone egrave identificato da un pacchetto di onde piane
La dinamica dellrsquoelettrone egrave regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo
Schroumldinger accoppiate da un termine kP
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimentoMatrici di trasferimento++
Condizioni WKB Condizioni WKB
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bandeApproccio sceltoApproccio scelto
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Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
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Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
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Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
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Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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n 3 di 19
CaratteristicheCaratteristiche Relativa semplicitagrave formale Accettabili possibilitagrave di simulazione e previsione della
caratteristica quasi-statica dei dispositivi
DatiDati Parametri fisici dei semiconduttori Diagramma a bande nella regione svuotata
Definizione di un adeguato un formalismo simbolico Implementazione del modello Verifica sperimentale mediante confronto con i campioni da
laboratorio forniti dal Motorola Physical Sciences Research Lab
ProcedimentoProcedimento
ObiettiviObiettivi
Realizzazione di un modello physical based per la corrente dovuta
allrsquoeffetto tunnel in diodi DBQW interbanda
Possibilitagrave di effettuare reverse modelling su dispositivi quantistici
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Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnelModelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel
ModelliCoerenti
ModelliCoerenti
Lrsquoelettrone egrave descritto come un pacchetto di onde piane
Si assume che la funzione drsquoonda mantenga coerenza
di fase durante la transizione attraverso la barriera
non sono considerati fenomeni collisionali
ModelliCinetici
ModelliCinetici
Sono prese in considerazione in numero limitato le
collisioni con i fononi
Lrsquoelettrone puograve subire una variazione della propria
energia E
Envelope waveEnvelope wavefunctionfunction
Density MatrixDensity MatrixWigner FunctionWigner FunctionGreenrsquos FunctionGreenrsquos Function
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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n 5 di 19
Definizione del modello utilizzatoDefinizione del modello utilizzato
Ersquo un modello coerente introdotto da E O Kane nel 1960
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione
di tipo parabolico (massa efficace costante)
Lo stato dellrsquoelettrone egrave identificato da un pacchetto di onde piane
La dinamica dellrsquoelettrone egrave regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo
Schroumldinger accoppiate da un termine kP
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimentoMatrici di trasferimento++
Condizioni WKB Condizioni WKB
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bandeApproccio sceltoApproccio scelto
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n 6 di 19
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
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Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
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n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
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Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
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Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnelModelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel
ModelliCoerenti
ModelliCoerenti
Lrsquoelettrone egrave descritto come un pacchetto di onde piane
Si assume che la funzione drsquoonda mantenga coerenza
di fase durante la transizione attraverso la barriera
non sono considerati fenomeni collisionali
ModelliCinetici
ModelliCinetici
Sono prese in considerazione in numero limitato le
collisioni con i fononi
Lrsquoelettrone puograve subire una variazione della propria
energia E
Envelope waveEnvelope wavefunctionfunction
Density MatrixDensity MatrixWigner FunctionWigner FunctionGreenrsquos FunctionGreenrsquos Function
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 5 di 19
Definizione del modello utilizzatoDefinizione del modello utilizzato
Ersquo un modello coerente introdotto da E O Kane nel 1960
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione
di tipo parabolico (massa efficace costante)
Lo stato dellrsquoelettrone egrave identificato da un pacchetto di onde piane
La dinamica dellrsquoelettrone egrave regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo
Schroumldinger accoppiate da un termine kP
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimentoMatrici di trasferimento++
Condizioni WKB Condizioni WKB
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bandeApproccio sceltoApproccio scelto
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 6 di 19
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
- Slide 1
-
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 5 di 19
Definizione del modello utilizzatoDefinizione del modello utilizzato
Ersquo un modello coerente introdotto da E O Kane nel 1960
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione
di tipo parabolico (massa efficace costante)
Lo stato dellrsquoelettrone egrave identificato da un pacchetto di onde piane
La dinamica dellrsquoelettrone egrave regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo
Schroumldinger accoppiate da un termine kP
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimentoMatrici di trasferimento++
Condizioni WKB Condizioni WKB
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bandeApproccio sceltoApproccio scelto
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 6 di 19
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 7 di 19
Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 6 di 19
Modello di Kane a due bandeModello di Kane a due bande
Ipotesi preliminariIpotesi preliminari Si considerano solo transizioni conservative Si suppone di avere un moto unidirezionale
ed una struttura omogenea ed illimitata nel
piano trasversale alla direzione di trasporto Lrsquoelettrone mantiene costante la quantitagrave di
moto nel piano trasversale Il campo elettrico nella regione svuotata egrave
costante Per tenere conto degli effetti del drogaggio
fortemente degenere si considera una massa
efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band
gap narrowing)
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 7 di 19
Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
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Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 7 di 19
Modello di Kane a due bande funzioni di propagazioneModello di Kane a due bande funzioni di propagazione
2 2 22 2
c c y z c c c v2 0
2 2 22 2
v v y z v v v c2 0
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
j (x t) (x t) (k k ) (x t) E (x t) P (x t)t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
22
gg
2 2
gg
1 mx j E 4 E V x dx
2E
1 mx 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x
(x) B exp j x
c vE EV x
2
nella banda proibita
nelle bande consentite
con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
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Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
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n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
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Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
- Slide 1
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 8 di 19
Espressione della corrente di tunnelingEspressione della corrente di tunneling
Lrsquoespressione della corrente di tunneling egrave data da
tun a c a v a a2 3
e m 2EI V A f EV f EV T EV exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T EV
E
f EV
f EV
egrave il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera
egrave lrsquoenergia dellrsquoelettrone nel piano trasversale al moto
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p
egrave la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende in generale dallrsquoenergia E dellrsquoelettrone
incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura
Nel caso classico di singola barriera sottile lrsquoespressione che si ottiene egrave
aT EV exp 2
dove aEV egrave la funzione di attenuazione della barriera
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 9 di 19
Tecnica delle matrici di trasferimentoTecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singolaBarriera singola
Barriera doppiaBarriera doppia
2 1
2 1
a aS
b b
La matrice di trasferimento della struttura DBQW egrave data da 2 1 S S S
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
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Laboratorio di Microelettronica
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 10 di 19
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQWCoefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione egrave dato da 2
2
2a
1 b 0
aT EV
a
a 2 2 21 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
a 2 2 2
1 2 2 1
4T EV
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura DBQW si ottiene
dove 1 aEV sono le funzioni di attenuazione delle barriere
aEV egrave la funzione di sfasamento della buca
2 aEVe
aEV 2n 12
aEV 2n 1
2
La condizione di risonanza egrave data da
ris 22 1
1T
cosh
ris 22 1
1T
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere
Il valore assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza risT
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
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Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
- Slide 1
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 11 di 19
Il modello di Kane come tutti i principali approcci sia coerenti che cinetici egrave
caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente dovuta agli effetti che non sono
presi in considerazione (transizioni non conservative presenza di stati trappola e di
superficie campo elettrico non costante)
Valutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazioneValutazione della corrente di tunneling parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello lrsquounico modo
di evitare tale sottostima egrave quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle
funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
EV
EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
1 a 1 a
2 a 2 a
EV C EV
EV C EV
C 1con
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
-1
2
6 05 04 03 02 01 00
P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 12 di 19
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 200 10 atomicm
135 10 atomicmp C
114 10 atomicm
MBE840
MBE842
-2
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P o sitio n (n m )
0
1
I A An sl
I G An a s
n
p
Ene
rgy
(eV
)
Diagramma a bande
fornito dal PSRL
Versione linearizzata del diagramma a bande
(campo elettrico costante)
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
4
6
8
00 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
00 0 0
00 0 0
00 0 0
00 0 0
Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 13 di 19
Misura delle caratteristiche dei prototipiMisura delle caratteristiche dei prototipi
0 70 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
2
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00 0 0 1
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Va (V )
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal PSRL sono state misurate utilizzando
la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (LME) Dai dati ottenuti egrave stata quindi
ricavata una caratteristica media
per il successivo confronto con i
risultati forniti dalla simulazione del
modello
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 15 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
0 0 2
0 0 2 5
0 0 3
0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 16 di 19
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 18 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 14 di 19
Applicazione della procedura di simulazioneApplicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura DBQW
Valutazione della dipendenza dalla tensione di
polarizzazione dei parametri del diagramma
a bande
Identificazione delle modalitagrave di tunneling
possibili (con e senza passaggio per la
buca) Definizione di una mappa nel piano EVa
delle regioni associate alle varie modalitagrave
di tunneling
Tu n n e lin g d ire tto co n p assag g io n e l IV s tra to
Tu n n e lin g a ttrav e rso la b u ca d i p o ten z ia le
Tu n n e lin g d ire tto sen za p assag g io n e l IV s tra to
0 40 0 1 0 2 0 30
0 1
0 2
0 3
E(e
V)
Va (V )
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
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T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
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0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
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0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
p
V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
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0 0 0 1
0 0 0 1 2
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
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V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 40 0 0 5 0 1 0 1 5 0 2 0 2 5 0 3 0 3 50
0 0 0 5
0 0 1
0 0 1 5
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0 0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Nellrsquointervallo di energia in cui puograve
avvenire il passaggio dei portatori il
coefficiente di trasmissione delle
due barriere non subisce forti
variazioni La probabilitagrave di tunneling presenta
una discontinuitagrave in corrispondenza
del minimo della buca dovuta al
fatto che la condizione
aEV 0
massimizza il coefficiente di
riflessione
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Laboratorio di Microelettronica
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
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0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
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E V
T E V
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
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0 0 0 1
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
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V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV
I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
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V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
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V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
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Laboratorio di Microelettronica
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Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)Valutazione del coefficiente di trasmissione T(EVa)
0 4
0 70 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 60
0 0 5
0 1
0 1 5
0 2
0 2 5
0 3
0 3 5
T (
EV
a)
E (eV )
Va = 0 V Va = 0 2 V
Va = 0 1 V Va = 0 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza
Allrsquoaumentare della tensione di
polarizzazione la condizione di
risonanza viene raggiunta piugrave
rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza
ris
a
ris a
E V
T E V
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Laboratorio di Microelettronica
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
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V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
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I 112 mA
Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
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V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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n 17 di 19
Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
K11A-M21 MBE84025x25 m C = 052
p
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V 120 mV
I 118 mA
Dati misurati
Dati simulati p
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V 124 mV
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Errori commessi tensione di picco 33 corrente di picco 51
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
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Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
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I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
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V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
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Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
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Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
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Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica confronto con le misure di laboratorio
0 80 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 6 0 70
2 1 04
4 1 04
6 1 04
8 1 04
0 0 0 1
0 0 0 1 2
0 0 0 1 4
Va (V )
C ara tte ris tica m isu ra ta C ara tte ris tica s im u la ta
I (V
a) (
A)
p
p
V 100 mV
I 055 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV
I 053 mA
Errori commessi tensione di picco 80 corrente di picco 34
Lrsquoerrore commesso egrave in parte
imputabile alla maggiore
dispersione delle caratteristiche
nel lotto di diodi misurato
K11A-M21 MBE84225x25 m C = 052
Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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Facoltagrave di IngegneriaDipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier ndash Quantum Well (DBQW) Interbanda
Laboratorio di Microelettronica
n 19 di 19
Conclusioni e sviluppi futuriConclusioni e sviluppi futuri
Risultati ottenutiRisultati ottenuti
SviluppiSviluppi
Il modello egrave in grado di riprodurre con buona precisione
lrsquoandamento della corrente statica dei diodi nellrsquointervallo
di tensioni in cui la componente di tunneling egrave predominante In particolare il modello egrave in grado di prevedere gli effetti
della variazione del drogaggio pp = 16 I 53
Verifica del comportamento del modello su strutture DBQW
con differenti caratteristiche Implementazione almeno per via semi ndash empirica degli effetti
di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra
la corrente e la sezione del diodo
La parte di definizione fisico ndash matematica del modello egrave stata presentata con il titolo
L Barletti G Borgioli M Camprini A Cidronali G Frosali ldquoTunneling current in resonant interband
tunneling diodesrdquo al V Congresso Nazionale della Societagrave Italiana di Matematica Applicata e
Industriale SIMAI Ischia 5-9 Giugno 2000
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