Waraporn TanthanuchHead of Industrial Application Research Division

2

3

• Beamtime• Lab• Scientists

• Universities• Other Labs• Research

Institute

• บูรณาการวิจัยร่วมกับบุคลากรทุกหน่วยงานของสถาบันฯ• การตอบโจทย์วิจัยแก่ภาคอุตสาหกรรมแบบเบ็ดเสรจ็ โดยใช้ทรัพยากรทั้งหมด

ของสถาบัน ฯ

4

5

พลอย สันติ

งานวิจัยดา้นวัสดุ ยางและพอลิเมอร์

6

ห้องปฏิบัติการ ชั้น 3 Wing B

7

เคร่ืองมือวิทยาศาสตร์ จ านวน 67 เคร่ืองรายการเครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

1 FTIR microspectroscopy ATR, FPA

2 FT Raman Microscope

3 XRD

4 WD-XRF

5 ICP-MS

6 UV-VIS

7 LC-MS/MS

8 HPLC-UV/RI

9 GC-MS/MS

10 GC-MS/MS Olfactometer

11 TEM

12 SEM

13 AFM

14 Rheology

15 Franz diffusion

16 Gel filtration GPC

8

1 Freeze dry

2 Ultramicrotome

3 Microtome

4 Cryotome

5 Spray dry

6 Soxhlet

7 เครือ่งระเหยแหง้โดยการเขยา่และลดความดนั

8 Laboratory Reactor

9 Rotary Evap

10 Fusion bead (KATANAX, K2 Prime)

11 Hot mounting (Struer,CitoPress-5)

12เครือ่งปั่นเหวีย่งสารตกตะกอนแบบควบคมุอณุหภมูไิด้

13 Centrifuge Micro titer plate 96 well

14 High speed centrifugation

15 Biological safety cabinet class II Type A2

16เครือ่งใหค้วามรอ้นและกวนสารละลาย (Hot plate

and stirrer)

17 เครือ่งท าใหเ้จลแหง้ (Gel Drying System)

18 เครือ่งนึง่ฆา่เชือ้ดว้ยไอน า้แรงดนัสงู (Autoclave)

19 ตูบ้ม่เพาะเชือ้ (Incubator)

20 เครือ่งเขยา่ควบคมุอณุหภมู ิ(Incubator shaker)

21 Incubator shaker 5L, 2 Set

22Vacuum Oven Ultra dry (Rigaku, RS-P110-5)

23 Ultrasonic cleaner (เครือ่งลา้งความถีส่งู)

24 Ultrahigh water purifier

25 Homogenizer

26 Vortex Mixer

27 Hot plate stirring

28 Multi position stirrer

29 Stainless blender

30 Sieve shaker

31 Over head stirrer

32 Sonicator

33 Vacumm oven

34 Freezer

35 ตูเ้ย็น

36 Sieve Shaker

37 เครือ่งดดูความชืน้ (ตามเครือ่งมอืทีต่ดิต ัง้)

38 เครือ่งวดัความชืน้

39Grinding and Polishing (Metkon, FORCIPOL 2V)

40 Diamond wire saw (MTI, STX-201)

41 Mini mill (เครือ่งบดสาร)

42 Hydrolic press (เครือ่งอดัสารตวัอยา่ง)

43 Cryo-Mills

เครื่องมือวิทยาศาสตร์ จ านวน 68 เครื่องรายการเครื่องมือเตรียมตัวอย่าง

9

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 1. Scanning Electron Microscope (SEM)

FEI: QUANTA 450

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีก าลังขยาย 6 - 1,000,000 เท่า ท าให้สามารถศึกษาโครงสร้างขนาดเล็กระดับนาโนเมตรถึงไมโครเมตร สามารถถ่ายภาพตัวอย่างได้หลากหลายโดยไม่มีความจ าเป็นต้องเคลือบผิวด้วยสารตัวน าไฟฟ้าก่อนการถ่ายภาพ โดยเลือกระบบสุญญากาศในห้องใส่ตัวอย่างที่เหมาะสมส าหรับตัวอย่างแต่ละประเภท ได้แก่ - ระบบสุญญากาศระดับสูง (High Vacuum) ส าหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง แห้ง และน าไฟฟ้า เช่น โลหะ เป็นต้น

- ระบบสุญญากาศระดับต ่า (Low Vacuum) ส าหรับตัวอย่างประเภทเป็นของแข็ง แห้ง และไม่น าไฟฟ้า เช่น พอลิเมอร์ ยาง เป็นต้น

- ระบบสุญญากาศระดับสภาวะแวดล้อม (Environmental SEM) ท่ีสามารถท างานที่ความดัน 10 ถึง 2600 Pa เหมาะกับตัวอย่างที่มีความชื้น มีน้ าเป็นองค์ประกอบ สามารถปรับระดับความชื้นในห้องใส่ตัวอย่างได้ตามความต้องการ และสามารถวัดตัวอย่างที่มีอุณหภูมิต่ าได้ เช่น ไอครีม ตัวอย่างแช่แข็ง ตัวอย่างทางชีวภาพ ทางการแพทย์ เป็นต้น

10

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

โหมดการวัดเพิ มเติม1. การวิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer: EDS) เป็นการวิเคราะห์หาธาตุใน

ตัวอย่าง ตั้งแต่ธาตุ B โบรอน ถึง U ยูเรเนียม วิเคราะห์ได้ทั้งเชิงคุณภาพ และเชิงปริมาณ และสามารถวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวตัวอย่างที่ศึกษาได้

2. การศึกษาการเปลี ยนแปลงของตัวอย่าง ขณะปรับเปลี ยนอุณหภูมิ : มีแท่นวางตัวอย่างชนิดควบคุมอุณหภูมิสูง ตั้งแต่อุณหภูมิห้องถึง 1,400 องศาเซลเซียส และแท่นวางตัวอย่างชนิดควบคุมอุณหภูมิต่ า ควบคุมได้ในช่วง -20 ถึง 60 องศาเซลเซียส จึงสามารถถ่าย VDO เพื่อติดตามการเปลี่ยนแปลงของตัวอย่างขณะปรับอุณหภูมิที่ต้องการได้

3. การศึกษาการเปลี ยนแปลงของตัวอย่าง ขณะปรับแรงดึง : มีชุดแท่นวิเคราะห์ทางกลของตัวอย่างด้วยเทคนิคแรงดึงขนาด 450 นิวตัน รองรับตัวอย่างได้สูงสุดที่ 1x12x65 mm มีระยะ Max Strain Travel 31 mm จึงสามารถถ่าย VDO เพื่อติดตามการเปลี่ยนแปลงตัวอย่างขณะใส่แรงดึงได้

4. การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านและส่องกราด (Scanning transmission electron microscopy (STEM)) เป็นการวัดตัวอย่างที่เตรียมให้บาง เพื่อให้เห็นโครงสร้างที่ส่องผ่าน เพื่อให้วัดผลได้คล้ายกับ TEM สามารถประยุกต์ใช้งานได้อย่างหลากหลาย เช่น การศึกษาเฟสที่ผสมรูพรุน การกระจายตัวของโละในพอลิเมอร์ ตัวอย่างทางชีวภาพ เป็นต้น

1. Scanning Electron Microscope (SEM)FEI: QUANTA 450

11

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 2. TEM: FEI company Model Talos F200X G2

(จัดหาปีงบประมาณ 2561)

1. มีช่วงก าลังขยายของ TEM ในช่วง 25 เท่า ถึง 1,500,000 เท่า มีช่วงก าลังขยายของ STEM ในช่วง 290 เท่า ถึง 330,000,000 เท่า

2. ความสามารถในการแจกแจงรายละเอียดของภาพโหมด TEM ได้น้อยกว่า 0.12 นาโนเมตร

3. ความสามารถในการแจกแจงรายละเอียดของภาพโหมด STEM ได้น้อยกว่า 0.16 นาโนเมตร

4. ชุด Goniometer (stage) สามารถเอียงท ามุมได้ในช่วง -90 องศา ถึง +90 องศา

5. สามารถปรับค่าความต่างศักย์ไฟฟ้าในการเร่งอิเลก็ตรอน (High Tension) ได้ในช่วง 20-200 kV

6. Tomography Holder (High Field of View) ที่สามารถเอียงท ามุมได้ในช่วง -70 องศา ถึง +70 องศา

12

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

1. ชุดวิ เคราะห์ ธา ตุด้ วย เทคนิคกระจายพลังงานรังสีเอ็กซ์ (EDS) เป็นชนิด Silicon Drift Detector (SDD) สามารถวัดธาตุได้ต้ังแต่ B ถึง U

2. 3D EDS Tomographic

2. TEM: FEI company Model Talos F200X G2

(จัดหาปีงบประมาณ 2561)

13

• Electrode material for Na-ion and Li-ion batteries

Sample Courtesy Michigan Tech University, Dr Reza Shahbazian Yassar

Sample courtesy: Prof. Neerish Revaprasadu, University of Zululand

CuInS Nanostructure Cu-In

• High contrast at low dose

• Light and heavy elements

Optimized for automated 3D EDS – Organic Nanoparticles/Polymer Sheet

BF DF2

DF4 HAADF

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 2. TEM: FEI company Model Talos F200X G2

17

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 2. TEM: FEI company Model Talos F200X G2

(จัดหาปีงบประมาณ 2561)

18

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 3. Atomic Force Microscope (AFM):

Park systems NX10 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมสแกนในแนวนอนมีก าลังแยกแยะ (spatial resolution) 0.04 nm การสแกนในแนวด่ิงมีก าลังแยกแยะ 0.015 nm

Nano-arrayed particles

19

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 3. Atomic Force Microscope (AFM):

Park systems NX10 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมโหมดการวัด 1. True Non-Contact AFM Mode โหมดการศึกษาลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง โดยใช้เทคนิคหัวเข็มไม่สัมผัสผิวตัวอย่าง2. Contact AFM Mode โหมดการศึกษาลักษณะพื้นผิวตัวอย่าง โดยเทคนิคหัวเข็มลากสัมผัสบนผิวตัวอย่าง3. Dynamic Force Mode (DFM) โหมดการศึกษาลักษณะพื้นผิวตัวอย่างโดยเทคนิคหัวเข็มเคาะลงบนผิวตัวอย่าง 4. Lateral Force Microscopy (LFM) mode โหมดศึกษาแรงสียดทาน (Friction) ของผิวตัวอย่าง5. Phase imaging โหมดศึกษาลักษณะพื้นผิวของผิววัสดุที่มีส่วนผสมแตกต่างกัน6. Force Distance (F-D) Spectroscopy โหมดศึกษาความอ่อนและแข็งของตัวอย่าง ด้วยเทคนิคการกดหัวเข็มลงบนผิวตัวอย่าง 7. Force volume imaging โหมดวัดค่าความแข็งความอ่อนบนผิววัสดุ8. Pin Point-Mechanical Mode โหมดศึกษาความอ่อนและความแข็งของวัสดุโดยการกดหัวเข็มลงบนผิวตัวอย่างซึ่งสามารถท าได้แบบเต็มพื้นที่สแกน (Mapping) 9. Magnetic Force Microscope (MFM) Mode โหมดศึกษาคุณสมบัติความเป็นแม่เหล็กของวัสดุ วัดการกระจายตัวของแรงแม่เหล็กบนพื้นผิวได้ สามารถ

วิเคราะห์ตัวอย่างในกลุ่ม magnetic storage, memory 10. Conductive AFM Mode โหมดศึกษาคุณสมบัติการน าไฟฟ้าของวัสดุ สามารถวัดกระแสไฟฟ้าได้ช่วง -10 µA ถึง 10 µA สามารถเพิ่มแรงดันไฟฟา้ (Bias

Voltage) ให้กับตัวอย่างในช่วง –10 ถึง+10 โวลต์ ที่สามารถควบคุมผ่านซอฟแวร์11. Pinpoint-Conductive AFM โหมดศึกษาคุณสมบัติการน าไฟฟา้ของวัสดุ โดยสามารถวัดได้เต็มพื้นที่ท าการสแกน (Current Mapping) 12. Electrostatic Force Microscopy (EFM) Mode โหมดศึกษาไฟฟ้าสถิตย์บนผิววัสดุ13. Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM)Mode โหมดศึกษาศักย์ทางไฟฟ้า (Surface potential) บนผิววัสดุ 14. Piezoelectric Force Microscopy (PFM) Mode โหมดศึกษาคุณสมบัติ ( ferroelectric strain component) ของผิววัสดุ15. Scanning Thermal Microscopy (SThM) Mode โหมดศึกษาคุณสมบัติการน าความร้อนบนผิววัสดุ ซึ่งมีช่วงอุณหภูมิตั้งแต่อุณหภูมิห้องถึง 160 °C ชุดควบคุม

อุณหภูมิบนแท่นวางตัวอย่าง (Temperature Control Stage) ที่สามารถเพิ่มอุณหภูมิบนแท่นวางตัวอย่าง ได้ตั้งแต่อุณหภูมิห้อง ถึง 250 องศาเซลเซียส

20

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 4. FTIR Spectrometer, Bruker Tensor27

FTIR-Microscope, Bruker Hyperion 3000

FPA detector64x64 array detector4,096 spectra/1 scan

21

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 5. FT-RAMAN spectrometer, Bruker MultiRAM Raman และ

Bruker Senterra II dispersive Raman Microscope

เครื่องรามานสเปกโตรมิเตอร์ (Raman Spectrometer) มีให้บริการ 2 เครื่อง คือ 1. FT-RAMAN spectrometer (Bruker Optics Model MultiRAM) มีเลเซอร์ความยาวคลื่น 1064 nm และ 2. Dispersive Raman Microscope (Bruker Optics Model Senterra II) ที่มีเลเซอร์ความยาวคลื่น 532, 785 nm นอกจากนี้ FT-RAMAN ยังเชื่อมต่อกับ เครื่อง Raman Microscope (Senterra II) ท าให้สามารถใช้ FT-RAMAN Microscope เลเซอร์ความยาวคลื่น 1064 nm ได้ จึงสามารถประยุกต์ใช้งานได้หลากหลายมากยิ่งขึ้น

22

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 6. Laser Ablation Inductive Couple Plasma Mass Spectrometer (LA-ICP-MS), Thermo: iCAP Q ICP-MS

with ESI’s IVA™: NWR021 laser ablation

ICP-MS เป็นเครื่องมือที่ใช้ในการวิเคราะห์ธาตุ (elemental analysis) โดยอาศัยหลักการของอะตอมมิกสเปกโทรสโกปี (Atomic spectroscopy) การวิเคราะห์ด้วยเทคนิคนี้ เป็นการใช้เลเซอร์ยิงไปที่ตัวอย่างให้เกิดการระเหิด (Laser Ablation) แล้วโมเลกุลดังกล่าวจะถูกส่งต่อไปยังเครื่อง ICP เพื่อให้พลังงานจากพลาสมาในการท าให้อิเล็กตรอนวงนอกของอะตอมหลุดออกเกิดเป็นไอออนบวกเกิดขึ้น จากนั้นไอออนบวกจะถูกแยกและวิเคราะห์ด้วยเทคนิคแมสสเปกโทรสโกปี (Mass spectroscopy) ซึ่งปริมาณไอออนบวกที่เกิดขึ้นจะมีความสัมพันธ์โดยตรงกับความเข้มข้นของสารตัวอย่าง

23

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 6. Laser Ablation Inductive Couple Plasma Mass Spectrometer (LA-ICP-MS), Thermo: iCAP Q ICP-MS

with ESI’s IVA™: NWR021 laser ablation

คุณลักษณะเฉพาะ1. สามารถท าการวิเคราะห์หาชนิดของธาตุ ที่มีความเข้มข้นระดับต่ าได้ถึงระดับส่วนในพันล้านส่วน (parts per billion parts,

ppb)2. สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างที่มีสถานะเป็นของแข็งและของเหลวได้3. มีเครื่องดูดและฉีดสารตัวอย่างอัตโนมัติ4. สามารถวิเคราะห์หาชนิดของธาตุได้พร้อมกันถึง 70 ธาตุ5. สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ทั้งเชิงคุณภาพ และเชิงปริมาณ6. เครื่อง LA มีแหล่งก าเนิดคลื่นแสงเลเซอร์จาก Neodymium Yttrium Aluminum Garnet (NdYAG) ที่ความยาวคลื่น 213

นาโนเมตร เพ่ือใช้กับตัวอย่างที่อยู่ในรูปของแข็งได้โดยไม่ต้องย่อยตัวอย่างด้วยกรด7. สามารถท าแผนภาพการกระจายตัวของชนิดของธาตุบนผิวตัวอย่างได้ (mapping) โดยภาพที่ได้มีความละเอียดในแต่ละจุด

(spatial resolution) ถึง 2 ไมครอน

24

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 6. UV-Vis-NIR ยี ห้อ PerkinElmer: LAMDA 950

เครื่อง UV-Vis-NIR ยี่ห้อ PerkinElmer เป็นเครื่องมือที่ใช้ในการตรวจวัดการดูดกลืนแสง (Absorbance) การส่องผ่านแสง (Transmittance) และการสะท้อนแสง (Reflectance) ซึ่งปริมาณการดูดกลืนจะมีความสัมพันธ์โดยตรงกับความเข้มข้นของสารตัวอย่าง ท าให้เทคนิค UV-Vis-NIR สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งในเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ และยังสามารถน าไปประยุกต์ใช้ในการวิเคราะห์ทดสอบสารได้อย่างหลากหลายทั้งในกลุ่มสารอินทรีย์ สารอนินทรีย์ และสารประกอบเชิงซ้อนที่ดูดกลืนรังสีในช่วงดังกล่าวได้

25

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 6. UV-Vis-NIR ยี ห้อ PerkinElmer: LAMDA 950

คุณลักษณะเฉพาะมีระบบการวัดการดูดกลืนแสงเป็นแบบล าแสงคู่ (Double beam Spectrophotometer) สามารถทดสอบค่าการส่องผ่าน

(Transmittance) และการดูดกลืน (Absorbance) ของแสงในช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่ 175 ถึง 3300 นาโนเมตรมีชุด Integrating Sphere ขนาด 100 มิลลิเมตร ส าหรับทดสอบค่า Transmittance และ Reflectance ของพื้นผิวตัวอย่าง สามารถทดสอบได้ในช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่ 200 ถึง 2500 นาโนเมตร ตัวอย่างการประยุกต์ใช้เทคนิค UV-Vis-NIR

ศึกษาการดูดกลืนและการส่องผ่านของแสงของตัวอย่าง เช่น ตัวอย่างกระจกอาคาร แว่นตากันแดด คอนเทคเลนส์ กระจกเคลือบด้วยฟิล์มบาง หมึกพิมพ์ เครื่องส าอาง โปรตีน เดเอ็นเอ เป็นต้นศึกษาการสะท้อนของแสงในตัวอย่างฟิล์ม ฟิล์มบางที่เคลือบบนพื้นผิววัสดุต่างๆ ผงโลหะ ผงออกไซด์ของโลหะ ผงสี พลาสติก และเซรามิก เป็นต้นโปรแกรมการจัดการข้อมูล (Data processor) 1) โปรแกรมค านวณค่าสี (Color software) จากสเปกตรัมของสารตัวอย่างโดยแสดงค่าตามมาตรฐานแบบ Tristimulus values

(XYZ), CIE L*a*b* ได้2) โปรแกรมการวิเคราะห์ค่า light transmittance, solar direct transmittance, ultraviolet transmittance ส าหรับกระจก

อาคารตามมาตรฐาน ISO 90503) โปรแกรมทดสอบสมบัติด้านความใสและความขุ่นของพลาสติก (Haze) ตามมาตรฐาน ASTM D-1003

26

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 7. Wavelength Dispersive X- Ray Fluorescence (WDXRF),

Rigaku ZSX Primus IV

WDXRF เป็นเครื่องมือส าหรับวิเคราะห์ชนิดและปริมาณธาตุในสารตัวอย่างโดยใช้หลักการเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ มีลักษณะการท างานเป็นแบบ Wavelength Dispersive สามารถหาปริมาณธาตุได้ต้ังแต่ เบริลเลียม (Be) จนถึง ยูเรเนียม (U) สามารถวิเคราะห์หาปริมาณธาตุที่มีมากในระดับความเข้มข้นสูงต้ังแต่ระดับ เปอร์เซ็นต์ (percent) จนถึงมีปริมาณน้อยมาก ระดับส่วนในล้านส่วน (ppm) เป็นเครื่องที่สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างได้ทั้งของแข็งและของเหลว

ในกระบวนการวิเคราะห์สารด้วยเทคนิค เอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์แบบ Wavelength Dispersive นั้น เกิดจากล ารังสีเอกซ์ที่ได้จากเครื่อง X-ray generator จะถูกส่งไปยังสารตัวอย่างเพื่อให้เกิดอันตรกิริยากับธาตุต่างๆ ในสารตัวอย่าง แล้วเกิดเอกซเรยฟ์ลูออเรสเซนซ์ผ่านคอลลิเมเตอร์ (Collimator) เพ่ือท าให้ล ารังสีเอกซ์เป็นล าขนานและไปในทิศทางที่ต้องการ ให้ไปกระทบกับ Analyzing crystal ซึ่งอยู่ในสเปกโทรมิเตอร์ที่ท าให้เป็นสุญญากาศ Analyzing crystal จะท าหน้าที่กระจายหรือแยกรังสีเอกซอ์อกไปให้มีความยาวคลื่นต่าง ๆ กัน และรังสีเอกซท์ี่ความยาวคลื่นต่างๆ กัน จะถูกส่งไปที่ดีเทคเตอร์ (Detectors) เพ่ือแปลงสัญญาณออกมาเป็นสเปกตรัม

27

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 7. Wavelength Dispersive X- Ray Fluorescence (WDXRF),

Rigaku ZSX Primus IV

X-ray Generator Unit

Tube-Above 4 kW, 60kV,150mARh Target Anode

End Window 30 MicronDetectors - Scintillation counter (SC) ส าหรับวิเคราะห์ธาตุหนัก

- Flow proportional counter (F-PC) ส าหรับวิเคราะห์ธาตุเบา

Analyze Crystal - LiF(200), LiF(220), GeH, PeTH, RX25, RX40, RX45, RX75

Sample Chamber

- มีระบบการเปลี่ยนตัวอย่างภายในเคร่ืองแบบอัตโนมัติ (Auto Sample Changer) สามารถวางถ้วยตัวอย่าง (Sample Changer) ได้ 48 ถ้วย

- รองรับตัวอย่าง ท่ีมีเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 50 มิลลิเมตร และความหนาไม่เกิน 30 มิลลิเมตร

- มี Sample mask 3 ขนาด (เส้นผ่านศูนย์กลาง 10, 20 และ 30 มิลลิเมตร) สามารถเลือกให้เหมาะสมตามขนาดของตัวอย่างได้

- สามารถท างานได้ท้ังระบบสุญญากาศ และก๊าซฮเีลี่ยม- มีระบบการหมุนตัวอย่างขณะวัด- มีระบบการวัดวัดการกระจายตัวของธาตุบนพ้ืนผิวตัวอย่าง (Micro

Mapping) ท่ีความละเอียดของการวัด 50 ไมโครเมตร

28

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์ 8. Ray Diffractometer (XRD), Rigaku SmartLab

เครื องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์

เทคนิคเอกซเรย์ดิฟแฟรกชัน หรือ เทคนิควิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ (XRD) เป็นเทคนิคท่ีน ารังสีเอ็กซ์ (X-ray) มาใช้วิเคราะห์และระบุชนิดสารประกอบ โครงสร้างผลึกของสารประกอบท่ีมีอยู่ในสารตัวอย่าง ท้ังในเชิงคุณภาพ (Qualitative) และเชิงปริมาณ (Quantitative) เทคนิควิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ อาศัยหลักการของการยิงรังสีเอ็กซ์ ไปกระทบท่ีชิ้นงาน ท าให้เกิดการเลี้ยวเบน และสะท้อนออกมาท่ีมุมต่างๆกันโดยมีหัววัดสัญญาณ (Detector) เป็นตัวรับข้อมูล องค์ประกอบและโครงสร้างของสารจะมีองศาในการเลี้ยวเบนรังสี เอ็กซ์ ในมุมท่ีแตกต่างกันออกไปขึ้นกับองค์ประกอบ รูปร่าง และลักษณะผลึก ซึ่งผลท่ีได้จึงสามารถบ่งชี้ชนิดของสารประกอบท่ีมีอยู่ในสารตัวอย่างและสามารถน ามาใช้ใช้ศึกษารายละเอียดเก่ียวกับโครงสร้างของผลึกของสารตัวอย่างนั้นๆ ได้ นอกจากนั้นแล้วยังสามารถศึกษาและวิเคราะห์ ปริมาณความเป็นผลึก ขนาดของผลึก ความสมบูรณ์ของผลึก และความเค้นของสารประกอบในสารตัวอย่าง และเมื่อวิเคราะห์กับอุปกรณ์เสริม เช่น อุปกรณ์ให้ความเย็น-ร้อน ก็จะสามารถศึกษาการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างผลึกในขณะท่ีสภาวะทดสอบเปลี่ยนไป

29

การประยกุต์ใช้งาน1. Small angle x-ray scattering (SAXS) ส าหรับการวิเคราะห์ Particle/Pore size distribution ของวัสดุ

ระดบันาโนเมตร2. วิเคราะห์เชิงคุณภาพ (Qualitative analysis) และเชิงปริมาณ (Quantitative analysis)3. วิเคราะห์หาค่าความเป็นผลึก4. วิเคราะห์ตัวอย่างแบบฟิล์มบาง (X-ray reflectivity ) ที่ใช้ในการวิเคราะห์หาค่า thickness, density,

surface roughness และ interface roughness 5. วิเคราะห์แบบ Rietveld refinement6. เปรียบเทียบข้อมูลที่ไดจ้ากการวิเคราะห์ตัวอย่างเชิงคุณภาพกับฐานข้อมูลอ้างอิง 7. การวิเคราะห์การเปลีย่นแปลงของสาร ตั้งแต่อุณหภูมิห้อง จนถึง 1500 องศาเซลเซียส

8. X-Ray Diffractometer (XRD), Rigaku SmartLab

เครื องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

30

9. Liquid Chromatograph High Resolution MS/MS Spectrometer

(LC-HRMS/MS) (จัดหางบประมาณ 2561)

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

เ ค รื่ อ ง โ ค รม า โทกราฟชนิ ดของเหลวประสิทธิภาพสูง ใช้แยกและหาปริมาณสารผสม โดยใช้ของเหลวเป็นตัวพาภายใต้ความดันสูง พร้อมเครื่องวิเคราะห์มวลโมเลกุล (Mass spectrometer) แบบความละเอียดสูง (High Resolution Accurate Mass) ที่มีส่วนวิเคราะห์มวล (Mass Analyzer) เป็นชนิด Orbitrap ซึ่งช่วยให้สามารถวิเคราะห์สารที่เป็นชนิด Unknown ได้อย่างมีประสิทธิภาพ

31

9. Liquid Chromatograph High Resolution MS/MS Spectrometer

(LC-HRMS/MS) (จัดหางบประมาณ 2561)

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

32

1. Detector ชนิด Diode array detector จ านวน 1 ชุด - มีหลอดก าเนิดแสงเป็นชนิด Deuterium หรือ Deuterium และ

Tungsten- สามารถใช้งานได้ในช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่ 190 ถึงไม่น้อยกว่า 800 นาโนเมตร หรือกว้างกว่า

2. Detector ชนิด Refractive Index detector จ านวน 1 ชุด สามารถวัดช่วงการหักเหของแสง (Index) ของสารละลายในช่วง ตั้งแต่ 1 ถึง 1.75 RIU หรือดีกว่า

9. Ultra High Performance Liquid Chromatograph (UHPLC)

(จัดหางบประมาณ 2561)

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

เครื่องโครมาโทกราฟชนิดของเหลวประสิทธิภาพสูง ใช้แยกและหาปริมาณสารผสม โดยใช้ของเหลวเป็นตัวพาภายใต้ความดันสูง

33

10. เคร่ือง Gas Chromatograph Mass Spectrometer (GC-MS/MS)

(จัดหางบประมาณ 2561)

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

เป็นเครื่องแก๊สโครมาโตกราฟ ที่สามารถวิเคราะห์หาปริมาณและเอกลักษณ์ของสาร ซึ่งแยกสารโดยใช้แก๊สเป็นตัวพา ส าหรับสารที่มีคุณสมบัติสามารถระเหยเป็นไอได้ พร้อมเครื่องตรวจวัดชนิด Triple Stages Quadrupole Mass Spectrometer ที่สามารถตรวจวัดได้ทั้งในด้านคุณภาพและปริมาณ • เป็นเครื่อง Gas Chromatograph ที่รองรับการตดิตั้ง Injector ได้

2 ชนิดและ Detector 3 ชนิด (รวม Mass Spectrometer) ในเวลาเดียวกัน

• ตัวตรวจวัดเป็นชนิด Triple Stages Quadrupole Mass Spectrometer

• สามารถวิเคราะห์มวลไดใ้นช่วง( Mass range) 1.2 – 1100 u หรอืกว้างกว่า

• มีความสามารถในการแยกประจุ (Resolution) ได้ 1 amu และมีค่า SRM transitions 600 SRM transitions/s หรอืดีกว่า

34

11. เครื องทดสอบกลิ น (Olfactometer)

รายละเอียดเคร่ืองมือวิเคราะห์

• เป็นอุปกรณ์ต่อพ่วงกับเครื่อง GC โดยผู้ใช้สามารถใช้จมูกดมกลิ่นสารที่แยกออกจาก Column เพื่อเปรียบเทียบผลกับเครื่อง GCMS ได้

• มีโปรแกรมช่วยบันทึก Retention time และชื่อของสารจากการออกเสียงของผู้ใช้งานเพื่อให้สามารถระบุชนิดของกลิ่นบนพีคในโครมาโทแกรม บันทึกเสียง เพื่อให้สามารถระบุชนิดของกลิ่นบนพีคในโครมาโทแกรม

• มีฐานข้อมูล MS Library รุ่นล่าสุด ซึ่งเป็นที่ยอมรับในระดับสากล ที่ครอบคลุมสารประเภทต่าง ๆ ได้แก่ ฐานข้อมูลด้านปิโตรเคมี สารเคมีก าจัดศัตรูพืช ยา ยาสัตว์ตกค้าง, metabolites, natural products และสามารถสร้างฐานข้อมูลเพิ่มเติมเองได้

35

Cryotome

Nanotome

Microtome36

เตาเผา

เตาหลอมแก้ว

37

สอบถามรายละเอียดเพิ่มเตมิได้ที่

ส่วนพัฒนาธุรกจิ

สายด่วน call center 0-4421-6666

สถาบันวจิัยแสงซนิโครตรอน(องค์การมหาชน) เลขที่ 111 อาคารสริินธรวชิโชทัย ถ.มหาวทิยาลัย ต.สุรนารี

อ.เมือง จ.นครราชสีมา 30000โทรศัพท์ 0-4421-7040 ต่อ 1607-8 โทรสาร 0-4421-7047

http://www.slri.or.th/bds/

Email: bds@slri.or.th

38