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Precision Metrology Lab. 基本光學原理 AOI Lecture 基本光學原理與光學系統 1.基本光學 2.光的波動性 3.偏振光學 范光照 台大機械系 (2014)

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Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

基本光學原理與光學系統

1.基本光學

2.光的波動性

3.偏振光學

范光照

台大機械系

(2014)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

基本光學

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

光譜 (Optical Spectrum)

可見光譜範圍約為400nm~700nm

波長

日常物體

光波名稱

來源

頻率

單一光

子能量

高 低

短 長

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

光譜 (Optical Spectrum)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Lens, Mirror, Grating and Rough surface

所須公式

折射 反射 繞射 散射

Scattering

(Rough surface)

Snell’s Law Lens equation Diffraction

equation

Gaussian

equation

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

折射與反射

折射

反射

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Dispersion

不同波長會有不同折射角

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

彩虹的原理

共經過二次折射一次反射

波長不同折射角度不同

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

基本光學原理假設

在均勻介質中光為直線前進

光行進符合Snell`s 定理:n×sinθ = n’×sinθ’

近軸假設:

光線以小角度行進。

sinθ~tanθ~θ,cosθ~1

Snell`s 定理變為n×θ=n`×θ`

系統中,鏡面各位置厚度為鏡面中心厚度

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Snell`s Law

ti nn

n: 折射率

光疏到光密 光密到光疏 全反射

ti nn

入射角大於臨界角 ti

ti

ti nn

n×sinθ=n`×sinθ`

臨界角

Evanescence

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

折射現象應用例

AOI Lecture

Autocollimator

膜厚量測 水平角度量測

LD sensor

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

雷射探頭 (散射原理例)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

繞射應用

動畫

奈米光學尺

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

光譜儀量光波長原理

AOI Lecture

Grating

QPD

θq

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

常用基本光學鏡組

反射鏡

球面鏡

平面鏡

透鏡

凸透鏡

凹透鏡

菱鏡 (3面鏡以上)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

球面反射鏡

凹面 凸面

反射鏡

球面

平面

透鏡

凸透鏡

凹透鏡

菱鏡

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

透鏡

聚合透鏡 發散透鏡

反射鏡

球面

平面

透鏡

凸透鏡

凹透鏡

菱鏡

基本透鏡公式:

FDD ofi

111

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

菱鏡

三菱鏡 直角菱鏡 五邊形菱鏡

反射鏡

球面

平面

透鏡

凸透鏡

凹透鏡

菱鏡

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

物體成像圖示法

聚焦透鏡 發散透鏡

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

F-number(F#)

F#:焦距長除以鏡面大小

鏡面大小

焦距長

無限遠的光線

f

D

F# = f/D

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

F#的特性

F#越小稱為fast system,其有下列特性

好的收光率(曝光時間可較短)

繞射極限較小(λ/D)

會造成較大的像差(sinθ≠θ)

鏡面的直徑較大(加工困難、成本較高)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

數值孔徑(NA)

數值孔徑(Numerical Aperture, NA):光線會聚在軸上的點所形成的最大角錐,其一半的角度θ的Sin θ值

NA=Sinθ

θ

物 像

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

NA與F#的關係

當F#越小時,會有以下關係式

#21

fNA

實際NA與F#曲線

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

物鏡(Objective lens)

d

D

f

:Diffraction Limited

:Depth of Focus

f : Focus

Intensity Profile

Wavefront

Lens

Numerical Aperture

Object

. sin tan2

DNA n n n

f

_ 1.22 0.61 0.61( / 2 )

Spot Size d fD D f NA

22 .)(61.0

.)(

2

NANA

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

CD/DVD pickup head

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

Lens Equations

AOI Lecture

Single Element | Two Element 各種設計例

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

ZEMAX Software

Telecentric lens

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

光機設計

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

光的波動性

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

光束與光波

光束的前進方向為波前的法向

光波可以產生繞射以及干涉

光束可以產生理想的影像,但是光波 會因為繞射或干涉影響成像品質

例如點光源的影像形成Airy disk

點光源的繞射所形成的最小光點直徑,會與波長以及F#有關,其關係式如下

#44.2 fD

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

波前圖形

光束前

進方向

球面波 波前

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

繞射現象

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

影像邊緣模糊

影像陰影區

投射光強

繞射造成影像邊緣模糊

物件

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Diffraction

Diffraction limit

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

單狹縫的光強度分布

0階 +1階 -1階 +2階 -2階

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

各階的破壞性干涉

中央光強 第一條暗紋 第二條暗紋

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

單狹縫繞射原理

破壞性干涉

狹縫寬度 角度 階數

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

圓孔繞射

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Airy Disk與Rayleigh Criterion

當點光源由一個小孔徑射出成像時,將不會形成一個光點,而是形成右圖的一個同心圓盤,造成此現象的並非由於鏡頭的像差,而是由於光波的繞射極限。

一成像的最大解析度,會取決於其繞射極限,要判斷成像最大解析度的方法稱為Rayleigh Criterion。

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

干涉(Interference)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

干涉原理

建設性干涉

破壞性干涉

干涉圖案 強度分佈 第一屏幕 第二屏幕

d

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Principle of Chromatic aberration correction

Refraction + Diffraction = Hybrid Achromatic

Fresnel Lens

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

偏振光學

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

電磁波

光具有電場以及磁場方向

電場與磁場沿著傳播方向的垂直方向作簡諧振盪

一般光源包含有各種方向的電場與磁場

磁場

電場

傳播方向 波長

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

極化與未極化光

光傳播方向 光傳播方向

單一方向 包含各種方向

極化光 未極化光

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

平面極化光(1/2)

S = E ╳ B 極化面

傳播方向

電場

磁場

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

平面極化光(2/2)

兩個相互垂直的電場,其相位、頻率都相同所組合而成新的極化方向,沿著傳播方向Z來看,為一直線,因此也稱為線性極化光

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

橢圓與圓形極化光

當兩道垂直電場的光,在相位上有差異時,將依照不同的差異形成圓與橢圓的極化光

△f

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

偏光片

吸收入射光行進方向上,各垂直方向的振盪,除了在某一特定方向平面的光才不吸收。

當光透過線性偏振極化後,將會有約60~65%的光強減弱。

如果透過兩個相互垂直方向的偏光片,所有的光將會被吸收。

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

偏光過程

傳播方向

同一平面所以通過 相互垂直所以將阻擋

限定偏振軸向 未極化光源 輸出特定方

向偏振光

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Measurement of Polarization

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Polarizer and Analyzer

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

偏光片應用例子(1)

消雜光:當影像有,散射光所造成的反射現象,可利用偏光片放置於鏡頭之前改善此現象

眩光:是由於高反射面或光學窗口所造成的。

使用前 使用後

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

應用例子(2)

強化對比

評估應力狀態以及折射率變化

使用前 使用後

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

應用例子(3)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

孔的像 光点

有眩光

加一偏光片

無眩光

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

波片

波片是一種光學雙折射的材料,其不同方向有不同的光學折射率。平面偏極光到達一片波片時,將會分為二互相垂直分量,並以不同速度前進,根據材料可以有1/2與1/4波片,其用途與用法都不同。

根據不同的用法可以

改變平面偏極光角度

得到圓或橢圓偏極光

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

Half Wave Plate Quarter Wave Plate

Precision Metrology Lab.

基本光學原理 偏光片與波片應用

AOI Lecture

準直雷射

直角菱鏡

四象位感測器

撓性微調座

聚焦透鏡

PBS

QWP

Mirror

位移量測 角度量測

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

應用例子(4)

Focus probe

Collimator

White LED

DVD pickup

APC circuit

Objective

lens

PBS

CCD

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

AOI Lecture

像散 (Astigmatism)

俗稱散光現象

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

Focus Probe

Plane1

Plane2

Plane3

V

-

0

+

0

+

-

mm30

mm

Schematic of the Astigmatic method

S-curve

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

Laser Focus Probe

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

objective lens

Non-contact Probe

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

Applications

CD Profile

-0.3

-0.2

-0.1

0

0.1

0.2

0.3

0.4

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Position (µm)

Heig

ht (µ

m)

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

DVD角度微調螺釘

20x物鏡

DVD

DVD鎖板

Precision Metrology Lab.

基本光學原理 智泰手機面板膜厚量測:

上面2圖為溥膜黑色部份的s-curve,下面2圖為透明部份的s-

curve。

膜厚量測結果:(利用NFES進行量測。)

序號 單位(μm)

1 7.32

2 7.43

3 7.30

4 7.41

5 7.39

標準差 0.06

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

3. 干涉應用

AOI Lecture

A. 雷射干涉儀

微型半導體雷射干涉儀

Precision Metrology Lab.

基本光學原理

B. 輪廓干涉儀

AOI Lecture

平面鏡

入射光

工件

分光鏡